扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
SEM扫描电镜分析检测范围
表面、断面、薄膜、金属、陶瓷、聚合物、纤维、生物材料、晶体结构、晶粒尺寸、纤维结构等。
SEM扫描电镜分析检测项目
微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、粒径分布分析、粗糙度、表面形貌观察、微观结构分析、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。（具体以客户实际情况为准）
SEM扫描电镜分析检测周期：7-15个工作日(参考周期，可加急)
SEM扫描电镜分析检测标准（部分）
1、 ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
2、 ISO 16000-27:2014 室内空气. 第27部分: 采用SEM(扫描电子显微镜检查法)(直接方法)对表面纤维落尘的测定
3、 NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 室内空气. 第27部分: 采用SEM(扫描电子显微镜检查法) (直接方法) 对表面纤维落尘的测定
4、 DIN ISO 16000-27:2014 室内空气. 第27部分: 采用SEM (扫描电子显微镜检查法) (直接方法)对表面纤维落尘的测定 (ISO 16000-27-2014)
5、 ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
6、 JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
7、 ASTM F1372-93(2020 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
8、 ASTM F1372-93(2012 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜 (SEM)分析的标准试验方法
9、 JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
SEM扫描电镜分析检测流程
1、联系客服，沟通检测需求；
2、根据实际情况确定样品递送流程，上门取样/送样/邮寄样品；
3、对样品进行初步检测，获取样品的特性以及相关指标；
4、根据客户的需求，根据检测经验及标准方法，定制试验方案；
5、进行试验，得到试验数据，出具测试报告；
6、完善的售后服务，可随时咨询；
以上是有关SEM扫描电镜分析检测的相关介绍，复达检测中心将会为您提供完备的检测方案，CMA资质认证机构，能为您解答工业问题诊断、未知物检测鉴定、材料及化工品失效、成分分析、性能测试等服务。
