HAST高加速寿命测试

高加速测试是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。
 
适用范围：
1、计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等；
2、电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等；
3、电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备；
4、其他：包装箱、运输设备等；
 
试验设备及标准：
试验设备：高加速试验箱
高温测试：GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2
低温测试：GB/T 2423.1 IEC 60068-2-1  EIA-364-59
快速温变测试：GB/T 2423.22 IEC 60068-2-14
冷热冲击测试：GB/T 2423.22 IEC 60068-2-14  EIA-364-32
恒温恒湿测试：GB/T 2423.3 IEC 60068-2-78 MIL-STD-202
温度变化测试：GB/T 2423.22 IEC 60068-2-14
交变湿热：GB/T 2423.4 IEC 60068-2-30
温湿度组合循环测试：GB/T 2423.34 IEC 60068-2-38  MIL-STD-202  TB/T 2054-2017机车淋雨试验方法

声明：

本公司只做化工技术服务（包含但不限于配方分析、产品质检、材质检测、牌号分析，产品备案等），不生产不出售任何产品，具体检测流程、周期以及费用情况，请咨询工程师。