HAST老化测试也称压力测试/PCT测试，不饱和压力试验/USPCT。主要通过改变温度、湿度、压力等基础参数，即高温、高压、高湿，将水蒸气压力增加到一定程度，提高环境应力，加速产品老化，来评估电子元器件可靠性试验方法。
目的
提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验
适用范围
HAST老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
HAST高加速老化测试和普通温湿度测试对比
HAST是加速防潮测试的更加加速版本,与高温/高湿度测试（85°C /85％RH）相比，HAST会产生更多成分，接触由于湿气驱动的腐蚀和更多的绝缘劣化。HAST完成了主要用于塑料密封组件。下表显示了极为常见的表格与HAST相关的测试标准。测试在指定的温度和相对温度下进行湿度或压力。大气通常具有至少100℃的温度，在a水蒸汽加压状态。HAST有时被归类为组合测试压力也被认为是环境参数。有饱和和HAST的不饱和品种。前者通常在121°C和100％的条件下完成RH，后者在110,120或130℃和85％RH的条件下。完成测试电子元件的通电通常是不饱和类型。HAST是一个相当极端的测试，加速因子在几十到几百倍之间,85℃和85％RH的条件。这种极端的加速使得检查非常重要失败模式。
HAST高加速老化测试
1、低温步进应力试验
2、高温步进应力试验
3、快速热循环试验
4、振动步进应力试验
5、综合应力试验
6、工作应力测试
