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1 微波暗室性能测量方法 GJB6780-20096 *交叉极化隔离度
2 无线电骚扰和抗扰度测量设备和方法规范－部分1-4:无线电骚扰和抗扰度测量设备 –附属设备-辐射骚扰度 GB/T6113.104-2016 CISPR 16-1-4:20128.3 *场地电压驻波比
3 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.3-2016 IEC61000-4-3:2010 6.2 *场均匀性
4 微波暗室性能测量方法 GJB6780-20098 *场幅均匀性
5 微波暗室性能测量方法 GJB6780-20097 *多路径损耗
6 暗室屏蔽效能测量 EN50147-1:1997全部 *屏蔽效能
7 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB/T12190-2006 全部 *屏蔽效能
8 军用涉密信息系统电磁屏蔽体等级划分和测量方法GJB5792-2006 全部 *屏蔽效能
9 电磁屏蔽体屏蔽效能的测量方法 IEEE Std299-2006 全部 *屏蔽效能
10 美国国家标准低压电子电气设备在9kHz到40GHz范围内无线电噪声发射测量方法 ANSI C63.4-2014附录D *归一化场地衰减
11 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辅助设备 辐射骚扰 GB/T6113.104-2016 CISPR 16-1-4:20125.4 *归一化场地衰减
12 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T9254-2008 CISPR22:2006 附录A *归一化场地衰减
13 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求**部分：通用要求GB4793.1-2007/IEC60101-1:20016.5,6.6,6.7,6.8,6.9 *绝缘电阻
14 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求**部分：通用要求GB4793.1-2007/IEC60101-1:20016.5,6.6,6.7,6.8,6.9 *绝缘耐压
15 微波暗室性能测量方法 GJB6780-20095 *静区反射电平
