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1 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 0902/2.3 X射线检查
2 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 0902/2.6 内部目检
3 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 0902/2.9 剪切强度
4 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 0902/2.2 外部目检
5 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 0902/2.4 密封
6 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 0902/2.8 扫描电子显微镜(SEM)检查
7 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006 0902/2.7 键合强度
8 晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-20114.6.6节 初始准确度
9 晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-20114.6.3节 电源电压
10 晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-20114.6.26 输出阻抗
11 石英晶体振荡器测试方法SJ/T10638-1995 4.3.22 日频率波动
12 石英晶体振荡器测试方法SJ/T10638-1995 4.3.23 日频率稳定度
13 晶体振荡器通用规范 GJB1648A-20114.6.17 短期频率稳定度
14 石英晶体振荡器测试方法SJ/T10638-1995 4.3.24 短期频率稳定度
15 晶体振荡器通用规范 GJB1648A-20114.6.21.1 输出电压