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1 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.5.3 主波长(适用于单色光)
2 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范SJ/T11400-2009 C组C11分组 人体模式
3 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温 GB/T2423.1-2008 试验方法Ab 低温贮存
4 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.3.5 光谱辐射带宽
5 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范SJ/T11400-2009 C组C12分组 光辐射安全等级(要求时)
6 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.3.2 半强度角
7 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.2.3 反向电流
8 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.3.5 峰值发射波长
9 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.3.1 平均LED强度
10 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.5.6 显色指数(适用于白光)
11 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.2.1 正向电压
12 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范SJ/T11400-2009 B组B8分组 电耐久性
13 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.5.4 相关色温(适用于白光)
14 半导体发光二极管测试方法SJ/T11394-2009 5.5.2 色品坐标
15 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范SJ/T11400-2009 C组C11分组 静电放电敏感度(ESDS)(要求时)