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1 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法试验M：低气压 GB/T2423.21-2008 低气压
2 军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验GJB150.2-1986 低气压
3 军用装备实验室环境试验方法第2部分：低气压（高度）试验 GJB150.2A-2009 低气压
4 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温 GB/T 2423.2-2008 高温
5 军用设备环境试验方法高温试验GJB150.3-1986 高温
6 军用装备实验室环境试验方法 高温试验GJB150.3A-2009 高温
7 舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB4.2-1983 高温
8 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008 低温
9 军用设备环境试验方法 低温试验GJB150.4-1986 低温
10 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验GJB150.4A-2009 低温
11 舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB4.3-1983 低温
12 舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB4.4-1983 低温
13 军用设备环境试验方法 温度冲击试验GJB150.5-1986 温度冲击
14 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验GJB150.5A-2009 温度冲击
15 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/AM： 低温/低气压综合试验 GB/T 2423.25-2008 温度-高度
