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1 半导体分立器件试验方法 GJB128A-974.1.1 低温试验
2 微电子试验方法和程序 GJB548B-20054.5.9.2 低温试验
3 电工电子产品环境试验GB/T242****-2008 试验Ga和导则:恒定加速度 恒定加速试验
4 半导体分立器件试验方法 GJB128A-972006 恒定加速试验
5 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-20052001.1 恒定加速试验
6 电工电子产品环境试验GB/T2423.22-2012 试验N:温度变化 温度循环试验
7 半导体分立器件试验方法 GJB128A-971051 温度循环试验
8 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-20051010.1 温度循环试验
9 电工电子产品环境试验 第2部分GB/T2423.2-2008 试验B:高温试验 高温试验
10 半导体分立器件试验方法 GJB128A-971032 高温试验
11 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-20051008.1 高温试验
