电子及电气元件环境试验-低温试验测试-百检网

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1 电子及电子元件试验方法 GJB360B-2009（方法101） 盐雾试验

2 射频电缆组件通用规范GJB1215A-2005（4.5.5） 温度冲击

3 军用装备环境试验方法 第11部分：盐雾试验GJB150.11A-2009 盐雾试验

4 电连接器试验方法GJB1217A-2009（方法1001） 盐雾试验

5 射频同轴连接器通用规范GJB681A-2002（4.5.19) 耐湿

6 环境试验第2部分：试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）GB/T 2423.18-2012 盐雾试验

7 电连接器试验方法GJB1217A-2009（方法1002） 潮湿

8 同轴、带状线或微带传输线用射频同轴连接器通用规范GJB976A-2009（4.5.18） 温度冲击

9 环境试验 第2部分：试验方法试验N:温度变化GB/T 2423.22-2012（7、8） 温度变化

10 运载器、上面级和航天器试验要求GJB1027A-2005（6.4.3） 热循环试验

11 高可靠射频同轴连接器通用规范GJB5021A-2011（4.6.19） 耐湿

12 军用装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验GJB 150.4A-2009（7.2.1） 低温试验

13 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温GB/T 2423.2-2008（5.3） 高温试验

14 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005（方法1008.1） 稳定性烘焙

15 同轴、带状线或微带传输线用射频同轴连接器通用规范GJB976A-2009（4.5.19） 耐湿