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1 电子设备用可变电容器的试验方法 GB/T4166-1984 20 侧推力
2 电子设备用可变电容器的试验方法 GB/T4166-1984 24 冲撞
3 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器 总规范 GB/T12775-1991 4.8 动片接触电阻
4 电子设备用可变电容器的试验方法 GB/T4166-1984 12 动片接触电阻
5 电子设备用可变电容器的试验方法 GB/T4166-1984 8 回差
6 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器 总规范 GB/T12775-1991 4.2 外观
7 电子设备用可变电容器的试验方法 GB/T4166-1984 5 外观
8 电子设备用可变电容器的试验方法 GB/T4166-1984 30 密封
9 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器 总规范 GB/T12775-1991 4.13 引出端强度
10 电子设备用可变电容器的试验方法 GB/T4166-1984 21 引出端强度
11 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器 总规范GB/T 12775-1991 4.17 恒定湿热
12 电子设备用可变电容器的试验方法 GB/T4166-1984 27 恒定湿热
13 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器 总规范GB/T 12775-1991 4.15 振动
14 电子设备用可变电容器的试验方法 GB/T4166-1984 25 振动
15 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器 总规范GB/T 12775-1991 4.5 损耗角正切值
