PI测试的内容
常见的PI测试指标,包括周期性和随机性扰动 (Periodic and RandomDisturbances,简称PARD),即噪声、纹波和瞬变;静态和瞬态负载响应;以及电源漂移。
正确的旁路和去耦技术可改善整体电源信号完整性,对于可靠的设计运行非常重要。随着电源电流要求的增加以及从电源到负载点(通常是FPGA 或 CPLD 设备)距离的增加,这些技术变得更加重要。设计者应考虑的旁路和去耦技术类型取决于系统设计和电路板要求。
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当输出缓冲改变状态时,例如将输出引脚从逻辑高电平驱动到逻辑低电平,输出结构瞬间呈现出从电源轨到地的低阻抗路径,穿过该结构。这种输出转换导致输出充电或放电,要求输出负载上必须立即有电流以达到所需的电压水平。旁路电容器在本地提供这种电流瞬变所需的存储能量。
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