建议在多次测试中改变入口和出口端口，以测量微突发容量。
可以改变微突发的强度（参见 [RFC8238]，第 6.1.1 节）以获得不同进入速率下的微突发容量。
建议在各种配置下测试 DUT 上的所有端口，以便了解入口端口、出口端口和强度的所有组合。
一个例子是：
*次迭代：N-1 个入口端口发送到一个出口端口。
*第二次迭代：N-2 个入口端口发送到两个出口端口。
*Zui后一次迭代：2个入口端口发送到 N-2 个出口端口。
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