上海闵行USB3.0TypeB夹具销售

上海闵行USB3.0TypeB夹具销售

上海闵行USB3.0GEN2测试夹具销售,USB3.0TypeB夹具销售USB3.0GEN2测试夹具销售,USB3.0TypeB夹具销售USB3.0GEN2测试夹具销售通过同轴线缆连接USB夹具信号线，另一端连接网络分析仪
SPT-2000A机箱时允许的运行环境是86华氏度(30℃) ，在SPT-2000A-HS上则没有限定。
支持USB3.0子卡，母板测试，完全符合USB3.0规范
上海精汐电子 保留在没有通知或提示的情况下对本手册内容进行修改的权利

USB3.0的Transmitter测试
如图2左下部分所示为示波器测量的USB3.0信号去嵌后测量到的眼图，图1右下部分是示波器直接测量到的眼图（即未作夹具去嵌的眼图），相比后者，前者的上升下降沿更陡峭，眼轮廓清晰，眼张得更开。从这个比较图中可以看到力科的去嵌技术可以消除测试夹具的负面作用。使用夹具去嵌功能后，可以更加准确的测量电压摆幅和去加重的比值。

5. 差分电压幅度与去加重测量
　　由于明显的通道衰减，SuperSpeedUSB要求某种形式的补偿，张开接收机上的眼图。发射机上采用均衡技术，其采用去加重的形式。规定的标称去加重比是3.5dB，用线性单位表示为1.5倍。例如，在跳变比特电平为150 mVp-p时，非跳变比特电平为100 mVp-p。

　　在通过有损耗的通道和线缆后，没有去加重的信号的眼图会产生ISI，闭合程度会变严重，而有去加重的信号的眼图是完全张开的。我们从这里可以看到，去加重的量影响着ISI和DDJ的值，进而影响接收机上的眼图张开度。
　　如前所述，USB3.0中接收机一侧的均衡技术改善了ISI破坏的信号，ISI来自于参考通道和线缆中的频率相关损耗。去加重同理，其通过信号处理方法提升信号的高频成分。

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产品描述USB3.0测试夹具专门为USB3.0接口测试设计，SI特性符合USB3.0协议，阻抗一致性优异，支持USB-A连接器。此测试夹具可用于信号速率，抖动，眼图，上升/下降沿等电气性能测试，完全符合USB3.0规范。

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