第三：USB3.1新增影音传输功能，
测试仪器：KEYSIGHT 网络 分析仪E5071C（300khz-20Ghz）
高性能SMA可拆卸连接器 ，兼容2.92mm，3.5mmSMA连接器。
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USB3.0的Transmitter测试
如图2左下部分所示为示波器测量的USB3.0信号去嵌后测量到的眼图，图1右下部分是示波器直接测量到的眼图（即未作夹具去嵌的眼图），相比后者，前者的上升下降沿更陡峭，眼轮廓清晰，眼张得更开。从这个比较图中可以看到力科的去嵌技术可以消除测试夹具的负面作用。使用夹具去嵌功能后，可以更加准确的测量电压摆幅和去加重的比值。
SSC经常使用在计算机主板的电路上，用于减小电磁辐射。在USB3.0中，需要测试扩频时钟的调制频率（SSCModulate Rate）、频偏值（SSC Deviation Max）和频偏值（SSC DeviationMin），测试时PUT发送出CP1码型的数据流（CP是CompliancePattern的简写，在USB3的物理层测试中，各项测试需要不同的测试码型）,CP1码型为D10.2，即0101连续跳变的码型，相当于频率2.5GHz的时钟，规范要求扩频时钟的调制频率为30-33KHz之间，频偏值在+/-300ppm之间，频偏值在-5300ppm到-3700ppm直接。如图4为力科示波器测量扩频时钟的结果。SSC是CTSRev0.9中是必测项目，跟USB3.0芯片输入时钟紧密相关，如果输入时钟的SSC不符合要求，通常USB3.0的输出信号的SSC也无法通过测试。
CTLE实现方案的设计要比其它技术简单，能耗要低于其它技术。在某些情况下，由于适应性、精度和噪声放大方面的限制，仅仅使用CTLE实现方案可能是不够的。其它技术包括前向反馈均衡（FFE）和判定反馈均衡（DFE），通过对数据样点加权一些补偿系数来补偿通道损耗。
码型发生器和分析仪之间的有损通道（即USB 3.0参考通道和线缆）在垂直方向和水平方向导致了频率相关损耗，这种损耗的表现是眼图闭合（图6）。为解决这种损耗，可以使用发射机去加重，提升信号的高频成分，以便接收的眼图在10-12（或更低）BER下足够好。
SSC通常用于同步的数字系统（包括USB3.0），以降低电磁干扰（EMI）。如果没有SSC，数字信号的频谱在其载频（即5Gbits/s）及其谐波上将出现高能的尖峰值，可能会超过法规限制（图7）。
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产品描述USB3.0测试夹具专门为USB3.0接口测试设计，SI特性符合USB3.0协议，阻抗一致性优异，支持USB-A连接器。此测试夹具可用于信号速率，抖动，眼图，上升/下降沿等电气性能测试，完全符合USB3.0规范。