半导体膜检测机构，半导体材料电阻率测试

半导体膜是指由半导体材料形成的薄膜。通常将禁带宽度小于2eV的材料称为半导体。随着禁带宽度不同在室温下其电导率不同。

半导体膜检测项目

成分检测、含量检测、厚度、均匀性、晶体结构、表面形貌、电学性能、光学性能、电阻率、阻隔性能、可靠性、失效分析、无损检测、定性定量分析、材质鉴定、常规检测、第三方检测、现场检测等。（具体以客户实际情况为准）

半导体膜检测标准（部分）

1、 ASTM F673-90(1996)e1 用非接触涡流仪测定半导体膜片的电阻率的标准试验方法

2、 GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法

3、 JB/T 11623-2013 平面厚膜半导体气敏元件

4、 BS IEC 62951-7:2019 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件表征柔性有机半导体薄膜封装阻隔性能的测试方法

5、 CSN 35 8971 Cast.1-1984 半导体设备．掩膜基件和掩膜 名称和定义

6、 IEC 62951-7:2019 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件第7部分：表征柔性有机半导体薄膜封装阻隔性能的测试方法（1.0版）

7、 ASTM F1894-98 定量分析硅化钨半导体加工膜组分和厚度的标准试验方法

半导体膜检测范围

半导体加工膜、可拉伸半导体器件、介质薄膜检测、绝缘薄膜检测、钝化与保护薄膜检测、压电薄膜检测、铁电薄膜检测、光电薄膜检测、磁电薄膜检测、集成电路、微电子学、半导体分立器件、半导体材料等。

什么是第三方检测报告？

第三方检测报告是由立的第三方检测机构或实验室基于特定的标准、规范或要求进行测试和评估，所提供的有关评估和测试结果的正式文件。

这些机构与被测试实体（如生产商、供应商或组织等）没有利益关系，具有相对的独立性和公正性，有资格向社会出具公正数据(检验报告)，可以提供客观、公正的评估。旨在确保产品、材料或系统的质量、安全性、合规性等方面的要求得到满足。

上海复达检测是法定的第三方检测机构，具有CMA、CNAS等资质，专注分析、检测、测试、鉴定、研发五大服务领域。服务面向全国，上海、北京、天津、沈阳、济南、南京、苏州、杭州、合肥、郑州、武汉、长沙、广州、深圳、成都、西安等地区均设有分部。