紫外光电子能谱检测是一种表面分析技术，用于研究样品表面的电子结构。紫外光电子能谱（UPS）是一种利用紫外光子辐照样品表面，测量从样品表面发射的光电子能量分布的技术。通过这种方法，可以获得样品价带电子结构的分析信息。
复达检测依法向社会各界提供紫外光电子能谱检测服务，具体检测服务内容如下：
（1）对于紫外光电子能谱检测我们可提供的检测范围，包括但不限于以下：
导体、半导体薄膜材料、金属材料表面分析等。
（2）本检测机构还可提供紫外光电子能谱相关标准检测，包括但不限于：
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量X射线光电子能谱法
GB/T 25185-2010表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱薄膜分析结果的报告
GB/T 31472-2015X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南
GB/T 31470-2015俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱分析指南
YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量
更多检测标准欢迎联系咨询。
（3）电子能谱分析检测机构数据结果出具时间依据样品数量、项目要求而定，一般周期为5-10个工作日，支持加急处理。
（4）本检测机构已获CMA、CNAS资质认可，可向社会各界出具第三方检测报告，本报告可做司法诉讼依据具备法律效益。
