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半导体集成电路微处理器及外围接口电路检测 机构 测试报告 检验报告
检测项目
输出低电平电压;动态条件下的总电源电流;输入低电平电流;输出高电平电压;输入高电平电流;传输时间;输出高阻态时电流;建立时间、保持时间
检测范围
半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测标准
国家标准GB/T12843-1991半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
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