半导体可控硅检测中心，高频可控硅触发电压测试

半导体可控硅（简称晶闸管）是指具有可控单向导电特性的半导体器件，通过控制信号可实现电流的导通与关断，具有耐压高、电流大、开关速度快等特点，广泛应用于电力电子设备、电机控制、整流装置、逆变电路、调光调速设备、电源系统、工业自动化控制等领域。

半导体可控硅检测范围

单向可控硅、双向可控硅、普通可控硅、快速可控硅、高频可控硅、高压可控硅、大功率可控硅、小功率可控硅、塑封可控硅、金属壳可控硅、贴片式可控硅、插件式可控硅、工业级可控硅、消费级可控硅

检测周期

一般到样后 5-7 个工作日（可加急）

半导体可控硅检测项目

正向阻断电压、反向阻断电压、额定正向平均电流、触发电流、触发电压、维持电流、擎住电流、正向压降、反向漏电流、开关时间、通态电流临界上升率、断态电压临界上升率、结温、绝缘电阻、封装密封性、外观质量、引脚强度、耐温性能、耐湿性能、电磁兼容性

半导体可控硅检测标准

GB/T 4023-2015《半导体器件 分立器件 第 1 部分：总则》

GB/T 14112-2013《半导体器件 可控硅整流器 第 1 部分：总则》

GB/T 14113-2013《半导体器件 可控硅整流器 第 2 部分：额定值和特性》

SJ/T 11461-2016《半导体器件 可控硅测试方法》

复达检测具有CMA、CNAS等资质，服务面向全国，包含上海、北京、天津、沈阳、合肥、郑州、武汉、济南、南京、苏州、杭州、宁波、长沙、广州、深圳、成都、石家庄、西安等各地区。具体检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。要想了解欢迎咨询哦！