SID4IR-MCT波前传感器
SID4 IR-MCT集成了Phasics四波横向剪切干涉专利技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度，波长范围跨越中波和短波红外范围（从1.2到5.5µµmm）。非常适合微弱光红外光源，如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。
SID4IR-MCT 光学元件测量 激光测量
特点：
由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4 IR-MCT波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：160x128测量点
2.高灵敏密度：3nmRMS@3μW/cm2
3.宽光谱消色差：1.2-5.5μm
4.高精度：即便在极度微弱光情况下
5.高数值孔径：高达F/1且不需要转接透镜
6.新一代冷却MCT探测器
应用：
光学测试：SID4IR-MCT是表征红外目标和镜头的非常好的设备，能提供MTF数据以及实时测量畸变和WFE。它的高灵敏度可用于黑色体频谱滤波的高光谱测试工作。
激光束测量：SID4IR-MCT是备微光红外源的测试设备，如量·子级联激光或FTIR激光。能完整表征光束参数（像差，M²，强度分布，光束参数…）。
SID4 IR-MCT产品参数：
波长范围 | 1.2-5.5μm |
通光孔径 | 9.6 x 7.68 mm2 |
空间分辨率 | 60 µm |
采样点（相位/强度） | 160 x 128 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏度 | 3nm RMS@3μW/cm2 |
*大数值孔径 | F/1 |
动态范围 | 300μm |
采样频率 | 140 fps |
实时分析频率 | 20 fps (fullresolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 135 x 140 x 240 mm |
重量 | 3.5kg |
