HCC-24 磁阻法测厚仪HCC-24

HCC-24 磁阻法测厚仪

HCC-24磁阻法测厚仪是一种用电池供电的便携式测量仪器，可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚度。例如：铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。由于集成电路和微处理器的应用，使本仪器具有操作简单、使用方便、稳定性好、测量精度高的优点。仪器具有数理统计功能，可直接显示测量次数、平均值、Zui大值及Zui小值。

本仪器采用电磁感应原理进行测量，符合ISO2178和国家标准GB/T4956。当探头与覆盖层接触时，探头和磁性基体构成一闭合磁回路， 由于非磁性覆盖层存在， 使磁路磁阻增加， 磁阻的大小正比于覆盖层的厚度。通过对磁阻的测量， 经电脑进行分析处理，由液晶显示器直接显示出测量值。

2  技术参数

1）测量范围： 0μm～1200μm。

2）示值误差：±((1~3)%H+1μm） H为被测涂层厚度。

3）分辨率：1μm。

4）Zui小测量面的直径：  φ10mm。显示窗主机2

5）显     示：4位LCD显示测量的次数、平均值、Zui大值、Zui小值，指示仪器的工作状态及电池使用情况。

6）电     源：一节6F22型9V电池。

7）外形尺寸：160 mm×80 mm×30mm。

8）质     量：约250g。

9）使用环境：温度0℃～40℃；相对湿度不大于90%。

3  仪器外型

为了保证仪器正常工作并获得工作状态， 请注意以下2个使用细节：

1.在仪器开机时，使探头远离被测件和其它铁磁性物体（10cm以上），直到仪器显示“0μm”为止。

2.每次测试后，尽量上提探头，使其远离被测件，这样会使仪器处于良好的环境适应状态。

6  正式测试前的准备工作

用户购买HCC-24 磁阻法测厚仪后的新仪器在进行实际使用前， 都必须要进行仪器的校正，这是保证仪器达到标称精度的重要保证，请务必重视。仪器有多种校正方法， 使用很灵活， 用户可根据实际需要选择如下一种方式：

1） 全范围高准确度的传统校正法

用户通过随机配备的三个不同厚度的试片和裸基体完成校正，具体步骤如下：

步骤一

在仪器处于开机后的状态时， 按一下“校正CAL”键，仪器屏上会出现“CAL”，会显示一个数值，该数值如果不为“0”，按“>”键，直到该数值由大到小变到“0”为止。将探头放在裸基体的测试面上进行测试（注意，这里的裸基体一定要和实际被测物的材料和形状完全相同。 不要使用随机配备的标准金属基块， 那只能用来验证仪器本身工作是否正常，不能用来校正仪器） 。 可以测试几下， 待仪器上显示的数值基本稳定后，按一下“校正CAL”键，仪器的零点便校正完毕，它会显示一个新的数值。

步骤二

该试片平放在裸基体上，探头再压在上面进行测试，可以重复几次。待仪器显示的测量值稳定后，按一下“校正CAL”键，第一个试片的校正结束，仪器又显示下一个校正片的厚度值。

步骤三

用步骤二相同的方法， 只是所用试片要换成厚度200μ m左右的那一片。

步骤四

依然和步骤二相同， 但所用的试片要换成1200μm左右的那一片。到这个步骤的Zui后阶段，按一下“校正CAL”键，仪器屏上还会继续显示一个校正片的厚度值， 如“1999”，不用再做下去了，再按一下“校正CAL”键，校正便全部结束了。这时的仪器便可以进行高准确度的实际测量了。

在以后使用时，如果有必要，可以做上面四个步骤的校正。 仪器会记住了上次的零点和每个试片的厚度值， 这样就可以根据仪器提示，不用再修正试片厚度值，便能轻松完成各个步骤。

2）上下限校正法

在大多数情况下， 用户使用本仪器测试的对象有一定的共性， 如材料和形状相同， 涂层厚度也局限在某个范围内，此时用户关心的也许是被测对象的涂层是否超差。 如果这些条件成立， 那么就没有必要使用上面多步骤的传统校正法，而只需要运用上下限校正便能很好地完成使命。

本方法只需要两个步骤校正两点，当然，这两点直接选用用户被测件涂层允许范围中的Zui小和Zui大厚度。这样校正的结果，仪器在这两个校正点上的精度非常高，甚至比上面传统的校正还要好。 要实现这一点， 用户要设法获得符合这两个校正点厚度的试片，可以向本公司提出购买特殊试片的要求， 也可以自行寻找符合条件的样品。 不必过于苛求试片或样品的厚度值与理想的校正点完全相符。有了这两个厚度片或实际样品后， 校正便可按如下步骤进行：

步骤一

先校正两者中较小的那个厚度值。在仪器开机后的状态下，按一下“校正CAL”键，用“<”或“>”键调整仪器显示的厚度值，使其和两点中较小的那个厚度值一致。在裸基体上平放对应厚度的试片，探头再压上进行测试。如果是样品，那么直接测试该样品。可以重复几次测试，待仪器显示的测试值稳定后，按一下“校正CAL”键，该点的校正便完成，仪器进入下一点校正。

步骤二

接上一步骤，用“<”、  “>”键调整仪器显示的厚度值， 使其和两点中较大的那个厚度值一致。按步骤一同样的方法， 用另一块对应的试片或样品进行测试，待仪器显示的测量值稳定后，按两次“校正CAL”键（后一次按键使仪器退出校正过程），上下限的校正便完成了。

如果以后还要做同样的上下限校正， 借助仪器已经记住的两个校正点厚度值， 能让用户省去上面两个步骤中调整厚度的那部分操作，使用将更加便捷。

3）单点校正法

有时候，受条件限制，譬如被测体是个凹面，无法使用很难弯曲的厚试片进行校正； 或者用户接触到的涂层厚度局限在一个相对较小的范围内。此时， 只能或只需要用一个校正点。这个校正点可以是裸基体（零点），也可以是某个任意涂层厚度的样品。如果用户的接触到的被测件涂层厚度在某个较小范围内， 如100μ m左右， 那么这个校正点选100μ m是Zui合适的。校正点定好以后就可以开始校正了， 只有如下一个步骤：

在仪器开机后的状态下，按一下“校正CAL”键，用“<”或“>”键调整仪器显示的厚度值，使其为“0”或与样品的厚度值一致。将探头直接放在裸基体上进行测试。 如果是样品， 那么直接测试该样品。可以重复测几次，待仪器显示的测试值稳定后，按两下“校正CAL”键（后一次按键使仪器退出校正过程），单点校正便完成了。

同样， 如果以后还要做同样的单点校正， 借助仪器已经记住的校正点厚度值，能让用户省去上面步骤中调整厚度的那部分操作，使用将更加便捷。

相对于上面的几种方法， 本校正法的操作Zui简单。但代价是仪器的测试精度在远离校正点处可能会有所降低。用户可以不妨试用一下本校正法， 以便判断它能否满足实际的测试要求。

4）任意多个校正点校正法

如果用户接触到的被测物件形状比较特殊， 涂层厚度的范围也比较大， 精度又有更高的要求， 那么用户可以自行挑选多个校正点（Zui多10个） 进行校正， 仪器允许的校正点厚度为0～1999μm。有一点请注意，在实际进行校正的过程中，多个厚度执行顺序必须由小到大依次进行。具体的操作步骤和上面的传统校正法类似， 此处就不再重复了。

9  仪器的日常维护

1）仪器使用完毕后，应放入清洁、干燥的储存箱里，避免冲击和振动。

2）探头应避免敲击和强烈振动并保持清洁，被测物上的污物在测量前必须被清除。

3） 仪器长时间不用时， 应取出电池， 以免电池漏液损坏仪器。