基于测试需求的不断提高,对测试精度与可靠性、稳定性方面提出了更加苛刻的要求。特别是在CAF测试中,失效点非常难找,而在测试数据上,可能只有一个或两个点的数据,数据量不足以支撑失效分析验证。因此可能会对失效原因分析及不便利,试验过程也就反反复复,增加了工作量,确也不能提高分析结果的可靠性。
系统主要应用:
1、离子迁移测试评估;
2、绝缘电阻性能劣化测试评估;
3、印制电路板、焊锡、焊剂、封装树胶等;
4、GBA、DSP等微间距图形IC封装;
5、电容器、连接器及其它电子器件及材料;
6、绝缘材料吸湿特性测试评估。