元器件可靠性问题即基本失效率的问题，这是一种随机性质的失效，与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平。在一定的应力水平下，元器件的失效率会大大下降。为剔除不符合使用要求的元器件，包括电参数不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等，应进行筛选试验，电子产品主要元器件的筛选试验一般要求：
购货商要提供以下测试报告，晶圆电阻，高温测试一般要焊接模拟测试，高温烤箱测试一般达不到实际焊接要求，晶圆电阻1W，测试可以通道式测试回流焊完成（力锋推荐：M系列测试型回流焊）完全模拟实际焊接生产曲线，这样测试过的器件品质更有保证！
①电阻在室温下按技术条件进行100％测试，剔除不合格品。
②普通电容器在室温下按技术条件进行100％测试，剔除不合格品。
③接插件按技术条件抽样检测各种参数。
④半导体器件按以下程序进行筛选：
目检→初测→高温贮存→高低温冲击→电功率老化→高温测试（模拟焊接测试）→低温测试→常温测试
筛选结束后应计算剔除率Q
Q=(n / N)×
式中：N——受试样品总数；
n——被剔除的样品数；
如果Q超过标准规定的上限值，则本批元器件全部不准上机
电阻检测方法
电阻器好坏的检测:
a、用指针万用表判定电阻的好坏:首先选择测量档位，再将倍率档旋钮置于适当的档位，一般100欧姆以下电阻器可选RX1档，100欧姆-1K欧姆的电阻器可选RX10档，晶圆电阻台湾品牌，1K欧姆-10K欧姆电阻器可选RX100档，10K-100K欧姆的电阻器可选RX1K档，100K欧姆以上的电阻器可选RX10K档.
b、测量档位选择确定后，对万用表电阻档为进行校0，校0的方法是:将万用表两表笔金属棒短接，观察指针有无到0的位置，如果不在0位置，调整调零旋钮表针指向电阻刻度的0位置.
c、接着将万用表的两表笔分别和电阻器的两端相接，表针应指在相应的阻值刻度上，如果表针不动和指示不稳定或指示值与电阻器上的标示值相差很大，则说明该电阻器已损坏.
d、用数字万用表判定电阻的好坏;首先将万用表的档位旋钮调到欧姆档的适当档位，一般200欧姆以下电阻器可选200档，200-2K欧姆电阻器可选2K档，2K-20K欧姆可选20K档，20K-200K欧姆的电阻器可选200K档，200K-200M欧姆的电阻器选择2M欧姆档.2M-20M欧姆的电阻器选择20M档，20M欧姆以上的电阻器选择200M档.
决定电阻大小的因素
决定电阻大小的因素有：导体的长度、材料、横截面积以及温度。其中温度是外部因素，在常见导体中，温度对电阻的大小影响不太显著。长度、材料、横截面积是导体本身的因素。因为决定电阻大小的因素较多，所以在研究和比较不同导体的电阻大小时，应保持几种因素相同的情况下，再讨论其中一个因素对电阻大小的影响。例如，材料和横截面积一定时，导体越长，其电阻越大；材料和长度一定时，横截面积越大的导体电阻越小。不能说铁的电阻比铜的电阻大，因为它们的长度、横截面积等因素并没有确定。
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