耐久性试验
耐久性试验，是为了测定产品在规定使用和维修条件下的使用寿命、预测或验证结构的薄弱环节和危险部位而进行的试验。耐久试验的试验时间一般都长于可靠性试验，通过耐久试验，找出产品设计制造中哪些零件可靠性方面存在问题，以便进行改进设计或提高工艺水平，通过测量主要件的磨损量变化，可计算出新产品的使用寿命。
试验目的 ：
测定产品使用寿命，预测薄弱环节
依据标准 ：
GJB451-90：为测定产品在规定使用和维修条件下的使用寿命而进行的试验；
GJB775.1-89：为预测或验证结构的薄弱环节和危险部位而进行的试验，它作为确定经济寿命的基础。
欣项科技在SEMI认证领域拥有十余年丰富的认证经验，能为您提供业界公认的半导体设备测试、评估报告以及文件审查服务。更为重要的是，欣项科技具有独立的第三方实验室认可资质，如美国实验室认可机构A2LA，中国实验室认可组织CNAS，国际半导体协会SEMI，直接具有对SEMI标准的授权及认可，让你的认证放心无忧。
如希望Safeslab欣项科技提供SEMIS2/ F47/ S10/ S6/ E78等服务，请与我们联系。