发光二极管-X射线照相测试-百检网

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百检检测流程：

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；

1 半导体光电子器件分规范（可供认证用） GB12565-1990 附录D表D1 反向电流

2 半导体光电子器件分规范（可供认证用） GB12565-1990 附录D表D1 正向电压

3 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.2.2 方法1002 反向电压

4 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.2.3 方法1003 反向电流

5 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.2.1 方法1001 正向电压

6 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.6.2 K系数

7 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.5.3 主波长和颜色刺激纯度

8 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.7.1 人体模式静电放电敏感性

9 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.3.3 光通量和光通量效率

10 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.3.2 半强度角和角偏差（θ1/2）

11 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.3.5 峰值发射波长（λp）、光谱带宽和光谱功率分布

12 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.3.1 平均LED强度

13 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.4.1 开关时间

14 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.2.4 总电容

15 半导体发光二极管测试方法 SJ/T11394-2009 5.7.1 机器模式静电放电敏感性