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1 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理GB/T14028-2018 5.8 关断时间toff
2 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理GB/T14028-2018 5.6 导通态漏电流IDS(on)
3 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理GB/T14028-2018 5.2 导通电阻Ron
4 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理GB/T14028-2018 5.3 导通电阻路差⊿Ron
5 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理GB/T14028-2018 5.7 开启时间ton
6 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理GB/T14028-2018 5.4 截止态漏极漏电流ID(off)
7 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-2018 5.6节 导通态漏电流
8 半导体器件集成电路第3部分 模拟集成电路 GB/T17940-2000 第IV篇 第4节 导通态漏电流
9 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-2018 5.2节 导通电阻
10 半导体器件集成电路第3部分 模拟集成电路 GB/T17940-2000 第IV篇 第4节 导通电阻
11 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-2018 5.3节 导通电阻路差
12 半导体器件集成电路第3部分 模拟集成电路 GB/T17940-2000 第IV篇 第4节 导通电阻路差
13 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-2018 5.16节 导通电阻路差率
14 半导体器件集成电路第3部分 模拟集成电路 GB/T17940-2000 第IV篇 第4节 导通电阻路差率
15 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-2018 5.5节 截止态源极漏电流