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1 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.8 关断时间
2 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.6 导通态漏电流
3 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.2 导通电阻
4 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.17 导通电阻温度漂移率
5 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.3 导通电阻路差
6 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.16 导通电阻路差率
7 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.7 开启时间
8 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.5 截止态源极漏电流
9 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.4 截止态漏极漏电流
10 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路GB/T 17940-2000 第III篇第6节 5.1.1 电源电流
11 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.9 通道转换时间