微电子器件-内部检验-百检网
更新:2022-11-30 11:47 编号:16501977 发布IP:116.233.110.44 浏览:18次- 发布企业
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- 百检
- 资质
- CMA/CNAS
- 地区
- 全国
- 关键词
- 微电子器件检测,微电子器件检验,微电子器件质检,微电子器件认
- 所在地
- 上海徐汇区普天科创产业园
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详细介绍
百检网-专业的第三方检测平台,打造一站式的检测服务体验。百检检测为您提供各类产品检测、认证认可、计量校准以及定制化的检测服务,出具拥有CMA/CNAS/CAL等资质的质检报告,检测报告数据适用于为相关科研论文供给研究数据、电商入驻、工商抽检、商超入驻、展会卖场申报、招投标等。百检网致力于以准确、高效、便捷的宗旨为客户创造更多价值,助力企业做好品质管控,降低贸易风险;以专业的技术和优质的服务为企业质量安全提供全方位解决方案。
检测报告作用:1、项目招投标:出具的第三方CMA/CNAS资质报告;2、上线电商平台入驻:质检报告各大电商平台认可;3、用作销售报告:出具具有法律效应的检测报告,让消费者更放心;4、论文及科研:提供专业的个性化检测需求;5、司法服务:提供科学、公正、准确的检测数据;6、工业问题诊断:验证工业生产环节问题排查和修正;
1 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-20052009.1,2014 外部目检、内部目检和结构检查
2 半导体分立器件试验方法 GJB128A-19972071 外部目检、内部目检和结构检查
3 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 扫频振动
4 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 模拟寿命
5 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 温度循环
6 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 盐雾(盐汽)
7 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 稳定性烘焙
8 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 稳态寿命
9 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 老炼
10 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 耐湿试验
11 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 间歇寿命
12 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 随机振动
13 《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005 方法1001 低气压
14 《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005 方法1010.1 温度循环
15 《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005 方法1008.1 稳定性烘焙
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