SI测试（SATA，QSFP，USB，PCIE，等一系列测试）

       信号完整性（英语：Signal integrity, SI）是对于电子信号质量的一系列度量标准。在数字电路中，一串二进制的信号流是通过电压（或电流）的波形来表示。然而，自然界的信号实际上都是模拟的，而非数字的，所有的信号都受噪音、扭曲和损失影响。在短距离、低比特率的情况里，一个简单的导体可以忠实地传输信号。而长距离、高比特率的信号如果通过几种不同的导体，多种效应可以降低信号的可信度，这样系统或设备不能正常工作。信号完整件工程是分析和缓解上述负面效应的一项任务，在所有水平的电子封装和组装，例如集成电路的内部连接、集成电路封装、印制电路板等工艺过程中，都是一项十分重要的活动。
信号完整性考虑的问题主要有振铃（ringing）、串扰（crosstalk）、接地反弹、扭曲（skev）、信号损失和电源供应中的噪音。
       高速电路测试服务项目有：①S1信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、12C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPT测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。②P电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.O、MIPI、HDMI、 SATA、Display Port、PCIE。