DENSsolutions 透射电镜原位冷冻热电样品杆

Lightning Arctic TEM原位冷冻热电方案是 Lightning TEM 原位热电方案拓展的新成员。通过 Lightning  Arctic样品杆，可以在冷却或加热样品的对其施加可控的电学刺激，并以原子级分辨率在透射电镜下 观察样品的实时动态过程。 

Lightning Arctic系统有两种工作模式： 1）冷冻&加电；2）加热&加电。它大大拓宽了 TEM 的应用领域范围，进而为研究低温物理，以及探究材料、器件的工艺条件与其结构、性质和性能的关系提供了独特的可 能性。 DENSsolutions先进的 MEMS 纳米芯片采用四探针法加热，可控制加电和加热，并输出准确的数据。其独特的芯片设计可单独或达到高的电场环境和加热温度。

为什么要选择Lightning Arctic 原位冷冻热电方案? 

1)直接进行原位低温冷冻和加热实验

Lightning Arctic样品杆内的冷却棒可将"冷"传递到样品杆前端的芯片。一旦冷却棒连接到浸入在液氮罐的 金属冷须上，样品就能在 TEM内冷却到液氮温度。除冷却外，Lightning Arctic 样品杆还能进行原位加热 实验，高可达到 800 ℃、甚至 1300℃（使用特殊芯片）。

2)原子成像高稳定性与高质量  

基于 Lightning Arctic原位样品杆的独特设计，额外配置了数个温度控制器，以稳定冷却过程中的样品漂 移。其中一个控制器确保与 TEM的温度平衡，其余的控制器用于稳定控制样品的冷却流量。使用外部液氮罐有助于大限度地减少液氮气泡，从而实现低样品漂移的高质量原子成像。

3) 持续的温度控制 

我们先进的加热&加电芯片可以在不干扰样品杆冷却过程的情况下，对样品进行精细的微区温控。这意味着可以快速设定用户想要的温度，并且把改变温度时所带来的图像漂移和离焦偏移降到小，确保原子级的高分辨成像。

4) 轻松实现样品所需的晶向 

Lightning Arctic双倾样品杆可在 α 和 β 两个方向上倾转样品（视极靴类型，10° - 25°），以对准到所需晶带轴。

5)在冷却/加热过程中进行原位加电实验  

与 Lightning Arctic样品杆兼容的加热&加电纳米芯片包含加电电极，可用于在冷却或加热过程中施加和测 量电信号。在纳米芯片上制备可用于电学实验的FIB 样品薄片也是非常重要的。DENSsolutions 为  Lightning 系统开发的成熟化工具（如 FIB样品台），也可用于在 Lightning Arctic 系统的加热&加电芯片 上制备高质量、无短路的 FIB样品薄片。