USB(Universal SerialBus)即通用串行总线，用于把键盘、鼠标、打印机、扫描仪、数码相机、MP3、U盘等外围设备连接到计算机，它使计算机与周边设备的接口标准化。在USB1.1版本中支持两种速率：全速12Mbps和低速1.5Mbps；而USB2.0中支持三种速率：高速480Mbps、全速12Mbps、低速1.5Mbps。在2002年Intel把USB2.0端口整合到了计算机的南桥芯片ICH4上，推动了USB2.0的普及，目前除了键盘和鼠标为低速设备外，绝大多数设备都是速率达480M的高速设备。
各通道skew差异小于±2ps。
随着USB3.0开始转入主流，成功的发射机一致性和认证测试对新产品上市至关重要。这些产品不仅能与其它USB3.0设备很好地一起工作，还满足了消费者在各种条件下的性能和可靠性预期。除大幅度提高性能外，USB3.0还提出了一系列新的测试要求，与上一代标准相比，带来了更多的设计和认证挑战。
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USB3.0的Transmitter测试
在发送端测试中，通常需要消除USB3.0的测试夹具引入的损耗和反射。如下图1所示为USB3.0发送端测试示意图：夹具插到待测试芯片的USB口，夹具上通过PCB的传输线USB口引出到4个SMA连接头（USB3的TX和RX各两个），然后用SMA接口的同轴电缆连接到示波器。由于夹具上的连接器、过孔、传输线等会使信号发生衰减、色散或者反射，导致示波器测量到的信号有所恶化。力科的眼图医生软件包括了夹具去嵌功能，只需输入夹具的S参数模型文件（可由VNA或者TDR测量得到），即可计算出没有夹具时测量到的信号的波形与眼图。
5. 差分电压幅度与去加重测量
由于明显的通道衰减，SuperSpeedUSB要求某种形式的补偿，张开接收机上的眼图。发射机上采用均衡技术，其采用去加重的形式。规定的标称去加重比是3.5dB，用线性单位表示为1.5倍。例如，在跳变比特电平为150 mVp-p时，非跳变比特电平为100 mVp-p。
在通过有损耗的通道和线缆后，没有去加重的信号的眼图会产生ISI，闭合程度会变严重，而有去加重的信号的眼图是完全张开的。我们从这里可以看到，去加重的量影响着ISI和DDJ的值，进而影响接收机上的眼图张开度。
为防止这个问题，SSC用来扩散频谱的能量。载频被调制，在本例中被三角波调制。接收机测试中使用的频率扩展的幅度是5000ppm，频率调制以33 kHz或每隔30μs循环，表现为三角波的一个周期。在SSC后，频谱中的能量被扩散，没有一个频率违反政策限制。
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产品描述USB3.0测试夹具专门为USB3.0接口测试设计，SI特性符合USB3.0协议，阻抗一致性优异，支持USB-A连接器。此测试夹具可用于信号速率，抖动，眼图，上升/下降沿等电气性能测试，完全符合USB3.0规范。