上海青浦LecroyUSB3.0夹具替代销售
上海青浦国产USB3.0GEN2夹具替代厂商,LecroyUSB3.0夹具替代销售国产USB3.0GEN2夹具替代厂商,LecroyUSB3.0夹具替代销售国产USB3.0GEN2夹具替代厂商差分电压摆幅测试的目的是验证信号峰峰值是否在0.8-1.2V之间。测试中DeviceUnder Test(简称DUT)需要发送出测试码型CP8(CP是CompliancePattern的简写,在USB3的物理层测试中,各项测试需要不同的测试码型,USB3.0规范中定义了各种测试码流,USB3.0的芯片厂商提供了软件接口来配置其发送数据的码型),CP8由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成,而且消除了去加重,其波形相当于50-250分频的时钟。在这些测试中,把USB3.0测试夹具去嵌后测量结果更。
SI性能优化至5Gbps,符合USB3.0协议。
应用场景:
USB(Universal SerialBus)即通用串行总线,用于把键盘、鼠标、打印机、扫描仪、数码相机、MP3、U盘等外围设备连接到计算机,它使计算机与周边设备的接口标准化,从2000年以后,支持USB2.0版本的计算机和设备已被广泛使用,USB2.0包括了三种速率:高速480Mbps、全速12Mbps、低速1.5Mbps。目前除了键盘和鼠标为低速设备外,大多数设备都是速率达480M的高速设备。
力科于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试解决方案,能提供端到端的互操作测试和兼容性测试,包括了Transmitter测试、Receiver测试、TDR测试。此外,力科还提供了业界的USB3.0协议层测试方案。
6. 误码测试与抖动容限测量
由于明显的通道衰减,SuperSpeedUSB要求某种形式的补偿,张开接收机上的眼图。发射机上采用均衡技术,其采用去加重的形式。规定的标称去加重比是3.5dB,用线性单位表示为1.5倍。例如,在跳变比特电平为150 mVp-p时,非跳变比特电平为100 mVp-p。
码型发生器和分析仪之间的有损通道(即USB 3.0参考通道和线缆)在垂直方向和水平方向导致了频率相关损耗,这种损耗的表现是眼图闭合(图6)。为解决这种损耗,可以使用发射机去加重,提升信号的高频成分,以便接收的眼图在10-12(或更低)BER下足够好。
在的SJ频率上(JTF的斜坡部分,或PLL环路响应的平坦部分),恢复的时钟可以跟踪数据信号上的抖动。因此,数据中相对于时钟的抖动根据JTF被衰减。在JTF平坦、PLL响应向下倾斜的更高SJ频率上,信号中存在的SJ被转移到下行分析仪。除压力眼图校准过程中的SJ以外,规定所有测量都要使用标准JTF。
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3. 产品测试
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示波器、频谱分析仪、信号发生器、波形/码型/函数发生器、网络分析仪、可编程电源、协议分析仪,矢量网络分析仪器计等
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(1)如果在验收时发现设备的型号、规格、数量和技术性能等有不符、不良或瑕疵等,我司负责退换货;
(2)租赁期间如果出现非人为故障,上海精汐电子负责免费退换货,若因客户使用不当造成仪器损坏,则需按照上海精汐电子对仪器损坏部位报价进行赔偿。
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