软件可以使USB3.0发送端的各项测试自动化,并生成多种格式的测试报告。在的USB3.0测试软件中,包括差分电压摆幅测试、去加重比值测试(De-emphasisratio test)、眼图和抖动测试、扩频时钟测试(Spread SpectrumTest),图1所示为报告中的整体测试项目概览,列出了测试项目对应的Spec的条目,测试项目的名称,当前测试结果,测试判定条件等。
随着USB3.0开始转入主流,成功的发射机一致性和认证测试对新产品上市至关重要。这些产品不仅能与其它USB3.0设备很好地一起工作,还满足了消费者在各种条件下的性能和可靠性预期。除大幅度提高性能外,USB3.0还提出了一系列新的测试要求,与上一代标准相比,带来了更多的设计和认证挑战。
产品描述迪赛康USB3.0测试夹具专门为USB3.0接口测试设计,SI特性符合USB3.0协议,阻抗一致性优异,支持USB-A连接器。此测试夹具可用于信号速率,抖动,眼图,上升/下降沿等电气 性能测试,完全符合USB3.0规范。
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USB3.0的Transmitter测试
尽管USB2.0的速度已经相当快,对于目前高清和动辄GByte的数据传输还是有些慢,在2008年11月,HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。USB3.0又称为SuperSpeed USB,比特率高达5Gbps,相比目前USB2.0的480Mbps的速率,提高了10倍以上,引用Intel专家JeffRencraft的话:“以25GB的文件传输为例,USB2.0需要13.9分钟,而3.0只需70秒左右。”25GB,正好是单面单层蓝光光盘的容量。USB3.0预计将在2010年逐渐在计算机和消费电子产品上使用。
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SSC(Spread SpectrumClock)展频测量
CTLE和FFE是线性均衡器。因此,这两种技术都会提升高频噪声,而产生信噪比劣化。但是,DFE在反馈环路中使用非线性元器件,使噪声的放大达到,补偿码间干扰(ISI)。图3示例了一个经过传输通道明显衰减的5Gbps信号,和使用去加重、CLTE和DFE均衡技术处理之后的信号。
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码型发生器和分析仪之间的有损通道(即USB 3.0参考通道和线缆)在垂直方向和水平方向导致了频率相关损耗,这种损耗的表现是眼图闭合(图6)。为解决这种损耗,可以使用发射机去加重,提升信号的高频成分,以便接收的眼图在10-12(或更低)BER下足够好。
SSC通常用于同步的数字系统(包括USB3.0),以降低电磁干扰(EMI)。如果没有SSC,数字信号的频谱在其载频(即5Gbits/s)及其谐波上将出现高能的尖峰值,可能会超过法规限制(图7)。
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SI性能优化至5Gbps,符合USB3.0协议。
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