上海普陀USB3.0GEN1测试夹具销售
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由于明显的通道衰减，SuperSpeedUSB要求某种形式的补偿，张开接收机上的眼图。发射机上采用均衡技术，其采用去加重的形式。规定的标称去加重比是3.5dB，用线性单位表示为1.5倍。例如，在跳变比特电平为150 mVp-p时，非跳变比特电平为100 mVp-p。
3. 产品测试
极低的插入损耗。
USB简介
在发送端测试中，通常需要消除USB3.0的测试夹具引入的损耗和反射。如下图1所示为USB3.0发送端测试示意图：夹具插到待测试芯片的USB口，夹具上通过PCB的传输线USB口引出到4个SMA连接头（USB3的TX和RX各两个），然后用SMA接口的同轴电缆连接到示波器。由于夹具上的连接器、过孔、传输线等会使信号发生衰减、色散或者反射，导致示波器测量到的信号有所恶化。力科的眼图医生软件包括了夹具去嵌功能，只需输入夹具的S参数模型文件（可由VNA或者TDR测量得到），即可计算出没有夹具时测量到的信号的波形与眼图。
6. 误码测试与抖动容限测量
由于明显的通道衰减，SuperSpeedUSB要求某种形式的补偿，张开接收机上的眼图。发射机上采用均衡技术，其采用去加重的形式。规定的标称去加重比是3.5dB，用线性单位表示为1.5倍。例如，在跳变比特电平为150 mVp-p时，非跳变比特电平为100 mVp-p。
从眼图上可以看到，在没有去加重时，所有比特位的幅度理论上是相同的。有了去加重，跳变位比非跳变位的幅度要高，有效地提高了信号的高频成分。
在抖动测量中使用CTLE仿真主要会改善受信号处理方法影响的抖动，即ISI。CTLE仿真不影响与数据码型无关的抖动成分，如RJ和SJ，尽管根据一致性测试规范（CTS），这两种测量都要求使用CTLE。另一方面，眼高会直接受到影响，因为ISI会影响其测量。
SI性能优化至5Gbps，符合USB3.0协议。
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示波器、频谱分析仪、信号发生器、波形/码型/函数发生器、网络分析仪、可编程电源、协议分析仪，矢量网络分析仪器计等
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