上海普陀国产USB3.0GEN1夹具替代厂商
USB3.0夹具销售国产USB3.0GEN1夹具替代厂商,USB3.0夹具销售国产USB3.0GEN1夹具替代厂商,USB3.0夹具销售国产USB3.0GEN1夹具替代厂商为了把5Gbps速率的数据传送较远的距离,USB3.0的发送端使用了去加重技术,这项测试可以测量DUT的去加重程度是否满足规范要求(要求在-3dB到-4dB之间)。测试时DUT发送出CP7码流,CP7码型由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成,是添加了去加重的信号波形。图3为某USB3.0芯片的去加重测量结果,该芯片采用了-3.47dB的去加重。
单板采用夹板式HDMI连接器和2.92mm(3.5mm)可拆卸SMA头(带宽支持40Ghz)。
各通道skew差异小于±2ps。
力科于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试解决方案,能提供端到端的互操作测试和兼容性测试,包括了Transmitter测试、Receiver测试、TDR测试。力科还提供了业界的USB3.0协议层测试方案。
QualiPHY软件可以使USB3.0发送端的各项测试自动化,并生成多种格式的测试报告。在QualiPHY的USB3.0测试软件中,包括差分电压摆幅测试、去加重比值测试(De-emphasisratio test)、眼图和抖动测试、扩频时钟测试(Spread SpectrumTest),图1所示为报告中的整体测试项目概览,列出了测试项目对应的Spec的条目,测试项目的名称,当前测试结果,测试判定条件等。
4. AC和DC共模电压测量
CTLE和FFE是线性均衡器。这两种技术都会提升高频噪声,而产生信噪比劣化。DFE在反馈环路中使用非线性元器件,使噪声的放大达到,补偿码间干扰(ISI)。图3示例了一个经过传输通道明显衰减的5Gbps信号,和使用去加重、CLTE和DFE均衡技术处理之后的信号。
在通过有损耗的通道和线缆后,没有去加重的信号的眼图会产生ISI,闭合程度会变严重,而有去加重的信号的眼图是完全张开的。我们从这里可以看到,去加重的量影响着ISI和DDJ的值,进而影响接收机上的眼图张开度。
如前所述,USB3.0中接收机一侧的均衡技术改善了ISI破坏的信号,ISI来自于参考通道和线缆中的频率相关损耗。去加重同理,其通过信号处理方法提升信号的高频成分。
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