差分电压摆幅测试
支持USB3.0子卡，母板测试，完全符合USB3.0规范
支持USB3.0子卡，母板测试，完全符合USB3.0规范
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USB2.0的速度已经相当快，对于目前高清和动辄GByte的数据传输还是有些慢，在2008年11月，HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。USB3.0又称为SuperSpeed USB，比特率高达5Gbps，相比目前USB2.0的480Mbps的速率，提高了10倍以上，引用Intel专家JeffRencraft的话：“以25GB的文件传输为例，USB2.0需要13.9分钟，而3.0只需70秒左右。”25GB，正好是单面单层蓝光光盘的容量。USB3.0预计将在2010年逐渐在计算机和消费电子产品上使用。
如图2左下部分所示为示波器测量的USB3.0信号去嵌后测量到的眼图，图1右下部分是示波器直接测量到的眼图（即未作夹具去嵌的眼图），相比后者，前者的上升下降沿更陡峭，眼轮廓清晰，眼张得更开。从这个比较图中可以看到力科的去嵌技术可以消除测试夹具的负面作用。使用夹具去嵌功能后，可以更加准确的测量电压摆幅和去加重的比值。
1. LFPS（Low Frequency PeriodicSignaling）信号测量
CP1是RJ校准使用的一种时钟码型。许多仪器采用双Diarc方法，把随机性抖动和确定性抖动分开，进行RJ测量。使用时钟码型是为了消除双Dirac方法中的一个缺陷，即其一般会把DDJ报告为RJ，特别是在长码型上。通过使用时钟码型，可以从抖动测量中消除ISI引起的DDJ，提高RJ测量精度。
从眼图上可以看到，在没有去加重时，所有比特位的幅度理论上是相同的。有了去加重，跳变位比非跳变位的幅度要高，有效地提高了信号的高频成分。
在抖动测量中使用CTLE仿真主要会改善受信号处理方法影响的抖动，即ISI。CTLE仿真不影响与数据码型无关的抖动成分，如RJ和SJ，根据一致性测试规范（CTS），这两种测量都要求使用CTLE。另一方面，眼高会直接受到影响，因为ISI会影响其测量。
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经测试，单端阻抗在45Ω±5%。