超薄DR平板探测器

超薄DR平板探测器更利于相关仪器设备的安装。其技术更先进，超薄DR平板探测器是一种X线直接转换技术，它利用硒作为X线检测器，成像环节少；CR是一种X线间接转换技术，它利用影像板作为X线检测器，成像环节相对DR较多。DR和CR将穿透被照射物体后的X线信息转化为数字信息，灰阶由胶片的256级提升至2048级、能在计算机中处理、可通过软件和功能实现图像的优化、图像质量大大提高。DR的核心技术是它的平板(FP)、超薄DR平板探测器采用一个带有碘化铯闪烁器的单片非结晶硅面板．将吸收的X光信号转换成可见光信号、再通过低噪声光电二极管阵列吸收可见光．并转换为电信号、通过低噪声读出电路将每个像素的数字化信号传送到图像处理器，由计算机将其集成为X线影像，以DOE为评价参数．DR是Zui高的．其图像层次丰富、影像边缘锐利清晰，细微结构表现出色．CR则将信息记录在涂有氟化钡的IP板上．再通过扫描装置实现数字化转换，其曝光条件仍由所匹配的X线成像设备所限制．图像与DR相比略逊。CR的图像对比度和噪声的表现也不错．这可能与其摄影时使用较高的mAs有关。