低剂量X射线透视仪

低剂量X射线透视仪主要用于异物检测，电子产品,内部是否变形、空焊、内部结构检测；.塑胶，电热管、人参冬虫夏草、铝件内是否有气孔气泡检测。电子元件半导体元器件,BGA,IC芯片,CPU, 电子元件电热丝,发热盘,热敏电阻,电容,集成电路,电路板等无损检测.（检测电子元件内部是否变形、脱焊；空焊等,）低剂量X射线透视仪还可用于塑料汽泡等检测,皮革制品金属异物检测,断针等检测.矿山皮带检测,安全检查等领域

车站码头安检；鞋产品在生产中有铁钉或其它金属异物不慎脱落掉入产品内检测；皮包、帆布包等各种邮政箱包未指定的地方有铆针(钉)、针头等金属异物脱落其内的检测.

仪器采用ф80平板型显像板即时成像，采用ф0.3微焦点射线管集约束散射线。使用方便、安全、可靠。还可用于。USP连接电脑即时打印检测效果图片.

二、仪器特点

技术参数

1. 像素区域：160×130mm

2. 像素分辨率：1280×1024

3. 有效分辨率：1274×1024

4. 像素大小：125×125um

5. 图像1280×1024×2=2.6Mbyte

6. 结构尺寸约190×170x15mm

7. DC插头，5.5×2.5mm，24v电源口

8. 天线外接接口, 图像无线传输

9. RJ45网口，带指示灯

10. 指示灯（电源、WIFI等） 11.光管电压:80KV 光管电流0.4MA