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1 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-20052009.1,2014 外部目检、内部目检和结构检查
2 半导体分立器件试验方法 GJB128A-19972071 外部目检、内部目检和结构检查
3 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 扫频振动
4 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 模拟寿命
5 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 温度循环
6 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 盐雾（盐汽）
7 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 稳定性烘焙
8 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 稳态寿命
9 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 老炼
10 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 耐湿试验
11 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 间歇寿命
12 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 随机振动
13 《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005 方法1001 低气压
14 《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005 方法1010.1 温度循环
15 《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005 方法1008.1 稳定性烘焙
