碳化硅是由碳元素和硅元素组成的一种半导体材料。通常,市场上大多见到的半导体芯片等基本都以硅为主要原材料。
那么该如何检测呢？复达检测依法向社会各界提供碳化硅检测服务，具体检测服务内容如下：
（1）对于碳化硅检测我们可提供的检测项目，包括但不限于以下：
折射率检测，三氧化二铁，纯度检测，成分检测，粒径检测，游离碳检测，含量检测，游离硅检测，硬度、密度、热导率、电阻率，纯度、粗糙度、平整度等。
（2）本碳化硅热导率检测机构第三方报告数据结果出具时间依据样品数量、项目要求而定，一般周期为5-10个工作日，支持加急处理。
（3）本检测机构已获CMA、CNAS资质认可，可向社会各界出具第三方检测报告，本报告可做司法诉讼依据具备法律效益。
（4）关于碳化硅的更多项目可参考本公司五大服务领域：分析、检测、测试、鉴定、研发。
分析领域包括成分分析、配方分析、失效分析、结构解析、方法学开发与验证、原材料质控/评价、一致性评价、特色分析等；
检测领域包括理化性能测试、有毒有害物质检测、阻燃性能检测、可靠性测试等；
测试领域包括能谱类、电镜类、波谱类、色谱类、质谱类等；
鉴定领域包括机械设备质量鉴定、安全事故鉴定、电子电器鉴定、材料鉴定等；
研发领域包括配方开发、配方升级、配方定制、合作研发等。
全国各区域开设检测点，寄样、送样或上门制样提供便利的第三方检测服务。
（5）本碳化硅第三方检测机构还可提供相关标准检测，包括但不限于：
GB/T 31351-2014碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
GB/T 32278-2015碳化硅单晶片平整度测试方法
GB/T 32978-2016碳化硅质高温陶瓷过滤元件
GB/T 37254-2018高纯碳化硅 微量元素的测定
GB/T 2480-2008普通磨料 碳化硅
GB/T 3045-2017普通磨料 碳化硅化学分析方法
GB/T 16555-2017含碳、碳化硅、氮化物耐火材料化学分析方法
GB/T 30656-2014碳化硅单晶抛光片
GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法
GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
